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利扬芯片：公司完成全球第一颗3nm芯片的测试开发

来源：东方财富发布时间：2022-07-08 14:34 阅读量：6919

阳芯片在互动平台上表示，最近几年来，公司在高端芯片领域不断加大测试和的投入特别是公司的计算机芯片测试技术，针对先进工艺的离散问题提供了一整套测试解决方案，重点解决功耗比，芯片内阻，大电流测试电路，测试温度控制等关键技术难点前期已为多家客户提供8nm和5nm芯片产品的量产测试服务目前，3nm先进工艺技术的芯片测试方案已经调试成功，标志着公司完成了全球首创

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